IC693CPU364-CF GE

GE IC693ALG220G
GE IC693CMM321
GE IC693CPU374
GE IC670PBI001-BE
GE IC670MDL740J
GE IC670MDL640

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Description

大都产生在电流或电压剧烈变化的部位,其原因是电流改变产生磁场,对设备产生电磁辐射;磁场改变产生电流,电磁高速产生电磁波。通常电磁干扰按干扰模式不同,分为共模干扰和差模干扰。共模干扰是信号对地的电位差,主要由电网串入、地电位差及空间电磁辐射在信号线上感应的共态

Allen Bradley 1769-SDN Device Net Scanner Module

Siemens 505-6660 Power Supply 505-6660

Imaging Technology Frame Grabber Card PCI 15357 NIB

Imaging Technology Frame Grabber Card AMV 8235 NIB

Allen Bradley 1769-IF4X0F2 Analog Module