DS200IPCSG1A GE 系统I/O模件

DS200IPCSG2A
DS200IQXDG1A
DS200IQXSG1A
DS200ITXDG1A
DS200ITXSG1A
DS200KLDAF1DAA
DS200KLDAF1EAB
DS200KLDCF1AAB
DS200KLDCG1A
DS200LDCCH1A
DS200LMGCF1AEA

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Description

共模电压通过不对称电路可转换成差模电压,影响测控信号,造成元器件损坏(这就是一些系统I/O模件损坏率较高的主要原因),这种共模干扰可为直流、亦可为交流。差模干扰是指作用于信号两极间的干扰电压,主要由空间电磁场在信号间耦合感应及由不平衡电路转换共模干扰所形成的,这种干扰叠加在信号上,直接影响测量与控制精度。

1xPt100 KlasseA temperature probe

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Lambda EWS50-24 power supply

IFM Efector Inductive Proximity switch IG0011