Description
直接影响测控信号，造成元器件损坏（这就是一些系统I/O模件损坏率较高的主要原因），这种共模干扰可为直流、亦可为交流。差模干扰是指作用于信号两极间的干扰电压，主要由空间电磁场在信号间耦合感应及由不平衡电路转换共模干扰所形成的电压，这种让直接叠加在信号上，直接影响测量与控制精度。
PHOENIX IBSSTME24BKFTT USED IBSSTME24BK-FT-T
GENERAL ELECTRIC AF-300ES USED AF300ES
TEXAS INSTRUMENTS 500-5047-A USED 5005047A
