Description
ZYGO 8070-0279-01 产品详情
ZYGO 8070-0279-01 是一款高精度光学测量设备,通常用作干涉仪的激光头组件。该设备在半导体制造、光学元件检测等领域有着广泛的应用。
产品特点与优势
- 高精度测量: 采用先进的干涉测量技术,能够实现纳米级的测量精度,精确捕捉表面的微小变化。
- 稳定性高: 具有良好的稳定性,能够在长时间的测量过程中保持高精度。
- 兼容性强: 可以与ZYGO的其他光学测量设备配合使用,扩展测量功能。
- 应用广泛: 广泛应用于半导体制造、光学元件检测、精密机械加工等领域。
产品功能
- 表面形貌测量: 精确测量样品的表面形貌,包括粗糙度、轮廓、台阶高度等。
- 薄膜厚度测量: 高精度测量薄膜的厚度。
- 波面测量: 测量光学元件的波面误差。
产品应用
- 半导体制造: 用于测量晶圆表面的平整度、缺陷等。
- 光学元件检测: 用于检测透镜、棱镜、反射镜等光学元件的表面质量。
- 精密机械加工: 用于检测精密零件的表面质量。
山西润盛进出口有限公司
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